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机译:标准晶圆级电迁移加速试验(汗水)陷阱的可靠性统计视角
sychol.ucl.ac.uk;
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SWEAT; Electromigration testing; Accelerated stress testing; Reliability statistics; Wafer-level reliability;
机译:标准晶圆级电迁移加速试验(汗水)陷阱的可靠性统计视角
机译:通过恒定温度下的加速电迁移测试估算集成电路铝金属化的可靠性
机译:关于在metla线上进行中等加速电迁移测试的标准程序的建议
机译:标准晶圆级电迁移加速测试(SWEAT)的可靠性统计数据
机译:可靠性预测加速降解测试数据的多变量统计建模与分析
机译:使用零假设统计检验的观点。第二部分:零假设统计检验是否是不规则的砌体?
机译:表3:描述性统计数据包括平均值,标准偏差(SD),Cronbach的alpha(α),每个场合和RPQ的测试 - 保持可靠性(n = 145×3场)。
机译:高速加速测试的统计视角。