机译:基于现代聚焦 - 离子束的场地特异性标本制备原子探测断层扫描
Cameca Instruments Inc 5500 Nobel Dr Madison WI 53711 USA;
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focused ion beam; transmission electron microscopy; atom probe tomography; specimen preparation; transmission electron backscatter diffraction;
机译:基于现代聚焦 - 离子束的场地特异性标本制备原子探测断层扫描
机译:用于原子探针层析成像的原位特定标本制备
机译:特定位置的标本制备,用于晶界原子探针层析成像
机译:通过原子探针层析成像技术进行14nm技术节点芯片中特定位置的样品制备和FinFET结构分析
机译:具有感兴趣的平面区域的原位原子探针样品制备
机译:铝合金原子探针试样的新方法
机译:一种聚焦离子束样品制备方法,以最小化铜原子探针断层扫描标本提示中的镓离子浓度