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Weyl's law on RC D* (K, N) metric measure spaces

机译:Weyl在RC D *(K,N)度量标准空间上的法律

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摘要

In this paper, we will prove the Weyl's law for the asymptotic formula of Dirichlet eigenvalues on metric measure spaces with generalized Ricci curvature bounded from below.
机译:在本文中,我们将为度量测量空间的渐近特征值的渐近公式证明来自下面的广义的Ricci曲率的渐近特征值。

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