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机译:掺杂III,IV和V族元素的MgO的电子性质研究:掺杂原子数变化的趋势
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机译:掺杂IV A元素的β-Si3N4的电子结构和光学性质的研究:第一性原理模拟
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机译:对空间原子层退火时的光学,电和元素特性的研究(SALD)Al掺杂ZnO薄膜
机译:第四组元素和III-V化合物的材料性能的第一原理计算。
机译:通过辉光放电光谱研究掺杂元素来表征非晶硅薄膜。电导率和带隙能量测量的相关性
机译:用III-IV-V掺杂剂调整单层六方硼磷化物的电子性质
机译:项目最终报告,在电解质溶液中掺杂Cu2O:掺杂剂掺入,原子结构和电性能,报告期:2009年4月15日 - 2012年1月15日。