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カルコパイライト型半導体AgGaSe_2結晶の光学評価による物性解析

机译:通过对黄铜矿型半导体AgGaSe_2晶体的光学评估进行物理性能分析

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摘要

三元系カルコパイライト型半導体は、多元系という特性のためSiやGeといった元素半導体では得られない有益な物性値を持っている。特に、AgGaSe_2は、バンドギャップ1.8eV、大きな非線形光学係数、赤外域での高い透過率、光吸収係数10~5cm~(-1)オーダーというオプトエレクトロニクスデバイス応用に必要な物性値を持つ。本研究では、半導体物性の重要な項目の一つである欠陥準位と基礎物性値の一つである抵抗値の評価を行った。
机译:三元黄铜矿型半导体由于其多维特性而具有不能由诸如Si和Ge的元素半导体获得的有用的物理性质。尤其是,AgGaSe_2具有1.8 eV的带隙,大的非线性光学系数,在红外区域的高透射率以及10至5 cm到(-1)的光吸收系数,这是光电器件应用所必需的物理特性。在这项研究中,我们评估了作为半导体物理特性重要项目之一的缺陷水平和作为基本物理特性之一的电阻值。

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