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【24h】

RF-MBE法を用いたTiマスク選択成長による規則配列InGaN/GaNナノコラムの作製

机译:利用RF-MBE方法通过Ti掩模选择性生长制备有序阵列InGaN / GaN纳米柱

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摘要

GaNナノコラムは結晶中に貫通転位を含まず優れた発光特性を有する。 我々は可視全域で発光するInGaN/GaN量子井戸ナノコラムLEDの報告を行ってきたが、個々のナノコラムからの発光波長が異なるために発光スペクトルはブロードになる傾向があった。 このようなナノコラムLEDの特性を改善するためにはナノコラムの位置と形状の制御が必要である。 本研究では、Tiマスクを用いたGaNナノコラムのMBE法による選択成長に成功したので報告する。選択成長は成長温度に強く依存し、900℃以上において選択成長が観測され、過剰な基板温度の増加はナノコラム形状の不均一化を促した。 また窒素流量の減少はナノコラムの横方向成長及び選択成長パターンのないTi薄膜上における自己形成GaN結晶の成長を抑制した。 InGaN活性層のIn組成を変化させることにより青色から赤色の発光を実現し、規則配列化によるPL半値幅の低減を観測した。 直径112nm、周期200nmをもつサンプルにおける低温と室温のPL積分強度比を評価したところ、77%と比較的高い値が得られた。
机译:GaN纳米柱在晶体中不包含贯穿转变,并且具有出色的发光特性。我们已经报道了在可见光范围内发光的InGaN / GaN量子阱纳米柱LED,但是由于各个纳米柱的发射波长不同,因此发射光谱趋于宽泛。为了改善这种纳米柱LED的特性,必须控制纳米柱的位置和形状。在这项研究中,我们报告了通过MBE方法使用Ti掩模成功地选择性生长GaN纳米柱。选择性生长在很大程度上取决于生长温度,在900°C以上观察到选择性生长,而底物温度的过度升高则导致纳米柱形状的不均匀性。另外,氮流量的降低抑制了纳米柱的横向生长以及Ti薄膜上无选择生长图案的自形成GaN晶体的生长。通过改变InGaN活性层的In组成,实现了蓝色至红色的发光,并且观察到由于规则排列而导致的PL半价宽度的减小。当在直径为112nm且周期为200nm的样品中评估低温与室温之间的PL积分强度比时,获得相对高的值77%。

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