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半絶縁性GaAsのbelow gap光キャリア励起によるテラヘルツ放射

机译:半绝缘GaAs的低于间隙光子载流子激发的太赫兹发射

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摘要

半導体結晶中のキャリアが伝導帯と浅い不純物準位間を放射遷移することを利用したテラヘルツ発生は1960年代から極低温での報告例があるが、本報告ではこれまでにない室温での発生及び新規な禁制帯エネルギー以下の励起光による発生について報告する。S.I.-GaAs結晶中にはその過剰砒素組成による深い準位とともに、浅いドナー不純物準位や浅いアクセプター準位が存在しており、励起されたキャリアが伝導帯または価電子帯から浅い不純物準位へ放射遷移することによりそのエネルギー差に対応するテラヘルツ波発生が期待できる。そこで本研究では、S.I.-GaAs結晶中の深い準位であるEL2準位を介してキャリア励起を行い、キャリアが浅い不純物準位へ放射遷移することで発生するテラヘルツ波の特性を測定したのでこれを報告する。
机译:自1960年代以来,已经报道在极低的温度下使用半导体晶体中的载流子在导带和浅杂质能级之间的径向跃迁来生成太赫兹,但是在此报告中,它发生在室温下,至今尚未见报道。我们报告了在新的禁区能量以下的激发光的产生。在SI-GaAs晶体中,由于过量的砷成分,施主杂质能级和受主能级也很浅,并且能级也很深,激发的载流子会从导带或价带移动到杂质能级。可以预料,通过辐射跃迁将产生与能量差相对应的太赫兹波。因此,在本研究中,S。我们报告了通过载流子通过EL2能级激发产生的太赫兹波的特性,EL2能级是I.-GaAs晶体中的一个深能级,并且载流子径向过渡到浅杂质能级。

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