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RFバイアススパッタ法によるc軸平行配向ZnO薄膜の形成-バイアス周波数が配向性に及ぼす影響

机译:RF偏压溅射法形成C轴平行取向ZnO薄膜-偏压频率对取向的影响

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摘要

c軸が基板面と平行かつ一方向に配向した((1120)面,(1010)面配向)ZnO薄膜を用いた共振子は横波を励振する.この厚みすべり薄膜共振子は液体中での質量負荷を測定するセンサに応用できる.ZnO薄膜の成膜中に基板ヘイオンを照射すると原子が最も密に詰まった(0001)面はイオンの衝突による損傷を受けやすく成長が抑制され、原子が疎な(1120)面や(1010)面が優先的に配向すると考えられている.そこで本研究では,RFマグネトロンスパッタ法において成膜中に基板へイオンを照射するために,基板を設置する電極にRFバイアスを印加してZnO 薄膜を作製した.その結果,バイアスなしで(0001)面配向ZnO薄膜が形成される条件下においても,c軸平行配向ZnO薄膜の形成に成功した.
机译:使用ZnO薄膜的谐振器,其c轴平行于基板表面并沿一个方向((1120)平面,(1010)平面方向)定向,激发了一个横波。该厚度滑动薄膜谐振器可以应用于测量液体中的质量负荷的传感器。在ZnO薄膜的形成过程中,用Hyeon照射基板时,离子最容易被原子堆积的(0001)表面容易受到离子的碰撞而被破坏,并且生长受到抑制,并且稀疏地雾化了(1120)和(1010)表面。被认为是优先考虑的。因此,在本研究中,为了在通过RF磁控管溅射法形成膜期间用离子照射衬底,将RF偏压施加到放置衬底的电极上以制备ZnO薄膜。结果,即使在没有偏压地形成(0001)面取向的ZnO薄膜的条件下,我们也成功地形成了c轴平行取向的ZnO薄膜。

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