机译:包括热载流子退化效应在内的全栅(GAA)MOSFET的显式连续分析模型
GAA MOSFET; Traps; Degradation; Modeling;
机译:包括热载流子退化效应在内的全栅(GAA)MOSFET的显式连续分析模型
机译:纳米级全耗尽双栅极MOSFET的分析分析,包括热载流子退化效应
机译:未掺杂的栅极叠层双栅极(GSDG)MOSFET的漏极电流模型,包括热载流子退化效应
机译:用于纳米级GaA MOSFET的分析阈值电压模型,包括热载波诱导界面电荷的效果
机译:双栅极MOSFET中短沟道效应的分析模型。
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机译:基于双门MOSFET电路的弹道/准弹道效应的分析建模和性能分析