机译:倾斜或不倾斜:校正低能电子衍射中样品表面倾斜引起的畸变
Spot-profile analysis low-energy electron; diffraction (SPA-LEED); Micro-channel plate LEED (MCP-LEED); Distortion correction; Off-axis; Tilted samples;
机译:倾斜或不倾斜:校正低能电子衍射中样品表面倾斜引起的畸变
机译:低能电子衍射IV分析研究苯在Ir {100}上的吸附;倾斜苯形成的证据
机译:低能电子衍射中畸变和系统误差的确定和校正
机译:电光采样的评估,包括倾斜像散高斯采样光束的衍射和孔径掩模
机译:从硅(100)-2x1表面使用低能电子衍射的密度泛函理论计算中比较簇和平板模型的几何形状。
机译:使用基于比尔-兰伯特定律的层析成像倾斜图像同时测定样品厚度倾斜度和电子平均自由程
机译:使用基于Beer-Lambert Law的断层倾斜图像同时测定样品厚度,倾斜和电子平均自由路径
机译:横向尾迹场引起的轨道失真和波束倾斜。