机译:使用基于比尔-兰伯特定律的层析成像倾斜图像同时测定样品厚度倾斜度和电子平均自由程
electron tomography inelastic scattering mean free path nonlinear least square optimization;
机译:使用基于比尔-朗伯定律的层析成像倾斜图像同时测定样品厚度,倾斜度和电子平均自由程
机译:精确的无标记对准,同时进行几何确定和电子断层扫描中的倾斜序列重建
机译:基于比尔-兰伯特定律的电子断层图像快速交叉验证方法
机译:3D-EFTEM:根据能量损失图像的倾斜序列进行层析成像重建
机译:两种生色团测定技术的表征和比较:改良比尔朗伯定律(MBLL)和空频域成像(SFDI)。
机译:基于比尔-兰伯特定律的电子断层图像快速交叉验证方法
机译:使用基于Beer-Lambert Law的断层倾斜图像同时测定样品厚度,倾斜和电子平均自由路径
机译:硅中meV电子产生的X射线:温度,倾斜和厚度依赖性