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【2h】

Simultaneous determination of sample thickness, tilt, and electron mean free path using tomographic tilt images based on Beer–Lambert law

机译：使用基于Beer-Lambert Law的断层倾斜图像同时测定样品厚度，倾斜和电子平均自由路径

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Rui Yan; Thomas J. Edwards; Logan M. Pankratz; Richard J. Kuhn; Jason K. Lanman; Jun Liu; Wen Jiang;
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年度 2015
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