机译:硅的电子反向散射衍射图中菊池能带对比度反转的分析
Electron backscatter diffraction; Kikuchi patterns; Dynamical electron diffraction simulation;
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机译:自动高精度测量电子反向散射衍射图中菊池带的位置和宽度
机译:多变量统计方法和仿真库对电子反向散射衍射和传输Kikuchi衍射数据集的应用
机译:电子扫描衬里成像和电子背散射衍射成像及扫描电子显微镜结构缺陷分析的进展
机译:电子背散射衍射图样的细节提取
机译:手动测量背散射和透射菊池衍射图中的角度
机译:电子反向散射模式中的信息深度和kikuchi带对比度
机译:sEm中晶体相分析的发展:背散射电子Kikuchi模式。