机译:使用嵌入式微处理器测试数据压缩和测试时间减少
automatic test pattern generation; built-in self test; data compression; embedded systems; integrated circuit testing; microprocessor chips; random number generation; runlength codes; system-on-chip; built-in self-test; embedded microprocessor; fault coverage; intel;
机译:使用嵌入式微处理器测试数据压缩并减少测试时间
机译:使用嵌入式微处理器测试数据压缩并减少测试时间
机译:使用嵌入式微处理器测试数据压缩和测试时间减少
机译:基于伊利诺伊州扫描架构测试数据压缩和测试时间减小最长路径的每栅极测试
机译:使用测试数据压缩和内置的自检功能来减少片上系统集成电路的测试数据量。
机译:单轴压缩试验下花岗岩平板延时超声层析成像数据集
机译:高效的空间/时间压缩,以减少IP内核的测试数据量和测试时间