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机译:使用嵌入式微处理器测试数据压缩并减少测试时间
built-in self test; automatic test pattern generation; random number generation; system-on-chip; microprocessor chips; integrated circuit testing; embedded systems; data compression; runlength codes; test data compression; test time; embedded microprocessor; system-on-a-chip; intellectual property core; manufacturing test; random number generation; fault coverage; built-in self-test; test pattern generation; run-length coding;
机译:使用嵌入式微处理器测试数据压缩并减少测试时间
机译:使用嵌入式微处理器测试数据压缩和测试时间减少
机译:使用嵌入式微处理器测试数据压缩和测试时间减少
机译:基于伊利诺伊州扫描架构测试数据压缩和测试时间减小最长路径的每栅极测试
机译:使用测试数据压缩和内置的自检功能来减少片上系统集成电路的测试数据量。
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