机译:全自动栅极介电击穿特性的基于阵列的测试电路
Department of Electrical and Computer Engineering, University of Minnesota, Minneapolis, MN, USA;
Aging; circuit reliability; dielectric breakdown; digital measurements;
机译:超薄高栅极叠层的介电击穿后,MOSFET的恢复和电路功能
机译:使用自动化测试系统同时进行超薄MOS栅极电介质的大规模可靠性分析
机译:利用阵列测试电路对栅介质中应力引起的局部漏电流分布进行实验研究
机译:基于数组的测试电路,用于全自动栅极介电击穿表征
机译:纳米VLSI电路的基于物理的电迁移和时变介电击穿建模以及可靠性分析。
机译:由柔性碳纳米管薄膜晶体管和超薄聚合物栅极电介质组成的逻辑电路
机译:超薄高k栅极堆叠的介电击穿后MOSFET的恢复和电路功能