机译:能量色散X射线定量光谱技术的挑战及其在高性能互补金属氧化物半导体器件的梯度嵌入式硅锗中的应用
Fraunhofer Institute for Non-Destructive Testing IZFP - Dresden Branch, Maria-Reiche-Strasse 2,01109 Dresden, Germany;
CLOBALFOUNDRIES Dresden Module One LLC & Co. KG, Center for Complex Analysis, Wilschdorfer Landstrasse 101, 01099 Dresden, Germany;
Fraunhofer Institute for Non-Destructive Testing IZFP - Dresden Branch, Maria-Reiche-Strasse 2,01109 Dresden, Germany;
transmission electron microscopy (TEM); energy-dispersive x-ray spectrometry; (EDXS); quantitative chemical analysis; graded embedded SiGe;
机译:用于高级低功耗高k金属栅极互补金属氧化物半导体技术的新型高性能模拟器件
机译:高性能互补金属氧化物半导体器件中硅化镍不连续性形成机理的研究
机译:超小型化CMOS(互补金属氧化物半导体)晶体管,单电子和分子尺度器件的新兴趋势:高性能计算纳米电子学的比较分析
机译:能量色散X射线荧光光谱法分析各种干粉海带食品补充剂中重金属的含量
机译:蓝宝石上硅(SOS)上的硅锗互补金属氧化物半导体场效应晶体管的设计,表征和轮廓优化。
机译:经由可可胶路线的高性能且可扩展的金属硫族化物半导体和器件
机译:发行商注意事项:“用于副0.1μm互补金属氧化物半导体栅极氧化物堆叠的”HFO2 / SiO2接口的热稳定性:软X射线光电子能谱“的价带和定量核心水平研究”J。苹果。物理。 96,6362(2004)