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一种应用能量色散X射线荧光分析测定石英矿中硅含量的方法

摘要

本发明公开了一种应用能量色散X射线荧光分析法测量石英矿中硅元素含量的方法,属于分析检测技术领域,主要解决现有技术在直接检测硅元素激发效率低、结果精度差及灵敏度不高的问题。该方法首先对市面上石英矿样品进行预处理及标准样品、待测样品的制备,用能量色散X射线荧光光谱仪对试样中的锌元素进行测量,探测到锌元素的特征峰面积,代入定标曲线,得到试样中锌元素的百分含量。再根据正硅酸锌中锌和硅的化学数量关系,计算得到石英矿中硅元素的含量。本发明通过间接的测量方法实现了对石英矿中硅含量的测量,具有准确、便捷、经济、易操作的特点。

著录项

  • 公开/公告号CN109298003B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-10-01

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 沈阳师范大学;

    申请/专利号CN201811338736.4

  • 申请日2018-11-12

  • 分类号G01N23/223(20060101);G01N23/2202(20180101);

  • 代理机构21229 沈阳维特专利商标事务所(普通合伙);

  • 代理人甄玉荃

  • 地址 110034 辽宁省沈阳市黄河北大街253号(道义开发区)

  • 入库时间 2022-08-23 12:34:40

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