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Slow etching of triangular pits on atomically flat monohydride terminated Si(111) surface in 40% NH_4F solution

机译:在40%NH_4F溶液中慢速蚀刻原子平坦的一氢化物终止的Si(111)表面上的三角形凹坑

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摘要

The etching reactions of monohydride (MH) terminated Si(111) surface were observed in oxygen-free 40% NH_4F solution by an in situ electrochemical scanning tunneling microscope. The results showed that the MH silicon steps in triangular pits played an imp
机译:通过原位电化学扫描隧道显微镜观察了在无氧的40%NH_4F溶液中单氢化物(MH)终止的Si(111)表面的蚀刻反应。结果表明,三角形凹坑中的MH硅台阶起了很大的作用。

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