机译:肖特基势垒对第一原理计算确定的金属/ SiON / SiC(0001)界面功函数的依赖性
Department of Physics, The University of Tokyo, Bunkyo-ku, Tokyo 113-0033, Japan;
Department of Physics, The University of Tokyo, Bunkyo-ku, Tokyo 113-0033, Japan;
Department of Physics, The University of Tokyo, Bunkyo-ku, Tokyo 113-0033, Japan,Institute for Solid State Physics, The University of Tokyo, Chiba 277-8581, Japan;
schottky barrier; schottky limit; density functional theory; SiON/SiC;
机译:金属/α-SiC{0001}界面的肖特基势垒高度的第一性原理计算
机译:单层金属/ 6H-SiC {0001}界面肖特基势垒高度的第一性原理计算
机译:石墨烯/金属氧化物接口的肖特基障碍:从第一原理计算中的洞察力
机译:肖特基势垒高度对金属工作功能的依赖性
机译:通过电流-电压,电容-电压和内部光发射法测量的四个氢和六个氢碳化硅的(0001),(0001bar),(11bar00)和(12bar10)晶面的肖特基势垒。
机译:石墨烯/金属氧化物界面的肖特基势垒:第一性原理计算的见解
机译:单层金属/ 6 -SIC {0001}界面的肖特基势垒高度的第一原理计算
机译:在没有费米能级钉扎的共价半导体上形成肖特基势垒:金属-mos2(0001)界面