机译:渐逝模式分析中的新改性,结合了亚阈值非对称双栅FET亚阈值模型中的亚1nm等效氧化物厚度
Indian Inst Technol Dept Adv Technol Dev Ctr Kharagpur 721302 W Bengal India;
Indian Inst Technol Dept Adv Technol Dev Ctr Kharagpur 721302 W Bengal India;
evanescent mode analysis; high-k gate dielectric; sub-1 nm equivalent oxide thickness; junctionless; asymmetric double gate FET; subthreshold model;
机译:亚阈值区域具有栅氧化物厚度和平坦带电压变化的非对称双栅MOSFET的解析模型
机译:适用于对称和非对称双栅极结构的纳米级短沟道无结MOSFET的亚阈值电流模型
机译:具有双材料栅叠层的纳米级无结双栅MOSFET的亚阈值行为模型
机译:亚阈值区非对称双栅叠层氧化物无结FET的建模与性能分析
机译:对绝缘体上硅CMOS器件和电路(包括双栅MOSFET)的基于过程的紧凑建模和分析。
机译:基于等效电路模型的亚阈值区域CMOS太赫兹等离子体检测器的准静态分析
机译:漏极感应屏障降低和顶/底栅氧化物厚度在不对称连接双闸门MOSFET中的关系