埋もれた強磁性層からスピン分解電子状態検出

摘要

物質·材料研究機構中核機能部門の上田茂典主任研究員、東北大学金属材料研究所の水口将輝准教授、同大電気通信研究所の白井正文教授らの研究グループは、従来のスピン分解光電子分光法では検出が困難であった埋もれた強磁性層からのスピン分解電子状態の検出に成功した。スピントロニクス素子の性能向上には、素子の中に埋もれた強磁性体の電子状態をスピンに分解して直接観測する必要がある。ただ、従来の観測手法ではスピン検出器の効率が極めて低いことが問題であった。そこで、研究グループは、試料の中に埋もれた電子状態の高効率スピン分解測定手法を新たに考案した。上田主任研究員によると「この手法の革新的な点は、スピン検出器の替わりに、試料の表面を覆った金薄膜中でのスピンに依存した電子の散乱現象を利用したことである。その際に、金薄膜の厚みや光霞子を検出する角度を最適化する工夫が必要であった」という。