200ナノメートルの構造解析可能X線イメージング検出器JASRIなど開発

摘要

高輝度光科学研究センター(JASRI)計測技術開発チームの亀島敬研究員、理化学研究所放射光科学研究センターデータ処理系開発チームの初井宇記チームリーダー、神島化学工業セラミックグループの柳谷高公グループマネージャー、村松克洋チームリーダーらの研究グループは、200ナメートルの構造を解析できる高解像度X線イメージング検出器の開発に成功した。