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用于利用堆叠式探测器同时进行X射线成像和伽马光子成像的设备和方法

摘要

一种双模式辐射探测器,包括:X射线探测器层,其用于将入射的X射线辐射转换成X射线电子数据,所述X射线探测器形成所述双模式辐射探测器的入射面;准直器,其被设置在所述X射线探测器层下面;以及伽马光子探测器层,其被设置在所述准直器下面以将入射的伽马光子转换成伽马光子电学数据。

著录项

  • 公开/公告号CN108351425B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-09-24

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 皇家飞利浦有限公司;

    申请/专利号CN201680046990.X

  • 发明设计人 H·W·A·M·德容;

    申请日2016-07-08

  • 分类号G01T1/161(20060101);

  • 代理机构72002 永新专利商标代理有限公司;

  • 代理人孟杰雄;王英

  • 地址 荷兰艾恩德霍芬

  • 入库时间 2022-08-23 12:32:23

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