GEM探测器与X射线成像实验

摘要

使用2个GEM探测器系统,分别用作增益测量和位置分辨测量.用GEM探测器测量铜靶X射线能谱,能量分辨率为21.5%.8 keV的X射线入射双层GEM探测器,实验测量x方向位置分辨为64 μm,y方向位置分辨为68 μm.将科研成果经过精炼、核心提取,为核与粒子物理学科的本科生开设GEM探测器和X射线成像实验,使学生对高能粒子探测技术、数据获取和处理等有整体的理解.