机译:高温退火的InP中的深层缺陷
Material Science Centre, Institute of Semiconductors, Chinese Academy of Sciences, Beijing 100080, China;
InP; defects; annealing ambience;
机译:通过高温退火消除InP中的深层缺陷
机译:快速热退火后未掺杂n-InP(10 0)中深层缺陷行为的研究
机译:快速热退火非掺杂n型InP的深层缺陷研究
机译:大剂量质子注入和高温退火硅的深层缺陷
机译:通过4H-碳化硅的高温退火产生深的硼。
机译:分子束外延在低温下生长的n型GaAsBi合金的深层缺陷及其对光学性能的影响
机译:退火环境中InP中深部缺陷的形成
机译:室温下长期退火引入β射线补偿锗深层缺陷的瞬态电容测量