机译:纳米层和梯度系统的无参,深度依赖性表征,具有先进的掠入射X射线荧光分析
Physikalisch-Technische Bundesanstalt (PTB), Abbestr. 2-12, 10587 Berlin, Germany;
CEA-LETI, 17 rue des Martyrs, 38054 Grenoble, France;
Physikalisch-Technische Bundesanstalt (PTB), Abbestr. 2-12, 10587 Berlin, Germany;
Physikalisch-Technische Bundesanstalt (PTB), Abbestr. 2-12, 10587 Berlin, Germany;
CEA-LETI, 17 rue des Martyrs, 38054 Grenoble, France;
CEA-LETI, 17 rue des Martyrs, 38054 Grenoble, France;
Physikalisch-Technische Bundesanstalt (PTB), Abbestr. 2-12, 10587 Berlin, Germany;
depth profiling; GIXRF; nanolaminates; tetralactam macrocycle self-assembled multilayers; ultra-shallow implants; XRR;
机译:通过掠入射X射线荧光分析对类颗粒表面污染物进行无参考定量
机译:通过无参掠入射X射线荧光分析对Cu(In,Ga)Se_2薄膜进行元素深度分析
机译:传统和掠入射条件下定量X射线荧光光谱法对埋藏纳米层的互补表征
机译:使用组合的放牧入射X射线荧光和X射线反射测量方法的基准,无参考,深度依赖表征纳米级材料
机译:使用X射线吸收光谱法研究生物系统中的锌。 I.锌依赖性烷基转移酶蛋白的EXAFS表征。二。使用X射线荧光微探针成像和微黄烷探索锌在Danio rerio胚胎早期发育中的作用
机译:掠入射X射线光谱法表征高k纳米层
机译:用放牧入射X射线光谱法表征高k纳米层