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机译:不同载气条件下衬底取向错误对MOCVD生长的GaN薄膜的影响
Nippon Institute of Technology, 4-1 Gakuendai, Miyashiro, Saitama, 345-8501, Japan;
atomic force microscopy (AFM); structure and morphology; thickness; crystalline orientation and texture; chemical vapor deposition (including plasma-enhanced CVD, MOCVD, etc.);
机译:c面蓝宝石衬底的微小取向角对MOCVD生长的GaN薄膜的表面和晶体质量的影响
机译:使用超薄AlN / GaN超晶格中间层通过MOCVD在4英寸Si(110)衬底上生长的高质量GaN膜和AlGaN / GaN HEMT
机译:低压MOCVD在EPI-GAN / SAPPHIRE(0001)基材上生长的β-GA2O3薄膜的研究
机译:C面蓝宝石衬底略微误定向角对MOCVD生长GaN薄膜表面和晶体质量的影响
机译:通过发光光谱和X射线衍射测定在6H-SiC(0001)衬底上生长的GaN和Al(x)Ga(1-x)N薄膜的应变和组成。
机译:HVPE生长的GaN晶体中的应力对MOCVD-GaN / 6H-SiC衬底的影响
机译:通过低压MOCVD在γ-LiAlO2(3 0 2)衬底上生长的非极性a面GaN膜
机译:在独立式GaN模板上通过mOCVD生长GaN和In(x)Ga(1-x)N薄膜的微结构