机译:Si-PIN和Si漂移探测器中的准直仪发出的荧光:考古和历史材料的XRF分析存在的问题和解决方案
CNR -Istituto per le Tecnologie Applicate ai Beni Culturali, A.d.R. Roma 1, Via Salaria km 29.300, CP 10, 00016 Monterotondo St., Rome, Italy;
portable XRF; thermoelectrically cooled x-ray detectors; XRF analysis; archaeological and historical materials; obsidian;
机译:使用薄型Si-PIN检测器提高PIXE和XRF方法的峰本比
机译:Monte Carlo仿真用作非破坏性能量分散X射线荧光(ED-XRF)光谱分析的工具,从Perdig的Chalcolithic Sitifacts of Perdig的术语术语,葡萄牙南部
机译:使用针型准直器对软质材料进行X射线荧光分析,可实现更大的分析深度公差
机译:使用便携式X射线荧光(XRF)进行无创材料分析,以检查锡拉丘兹圣乔瓦尼地下墓室中的两幅壁画
机译:反向散射Moessbauer光谱仪/ x射线荧光分析仪(BaMS / XRF)用于行星表面材料。
机译:LEGe检测器准直仪对X射线X射线分析中K峰和康普顿散射的影响
机译:Lege探测器准直器对γ射线XRF分析X系列峰和康普顿散射的影响