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XRF定量分析中样品制备对PW1660荧光仪分析结果的影响

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摘要

在用X射线荧光分析法时,由于粉末样品的粒度、密度及与结晶构造等有关的矿物效应的影响十分严重,必须通过严格的样品制备来解决;本文讨论该法中影响分析精度的若干因素及解决方法.

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来源
《全国X射线光分析技术应用研讨会》|2003年|62-64|共3页
会议地点南京
作者
郭燕春;
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作者单位

中国硅酸盐学会;

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会议组织
正文语种
原文格式 PDF
中图分类 TQ172.16;
关键词
X射线荧光分析; 水泥测试; 样品制备; 定量分析;

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