一种用于测量Si-PIN探测器有效面积的准直器及其使用方法

摘要

本发明公开了一种用于测量Si‑PIN探测器有效面积的准直器及其使用方法，所述准直器包括：AB两个部件，A部件位于射线源预设范围内，用于对光源发光区域进行限制；B部件用在探测器段，用于对射线进行准直和限光，并屏蔽其它方向的干扰射线；A部件为带有一个第一通光孔的金属板；B部件为带有N个准直管安装孔和N个探测器小腔的金属块，准直管安装孔与探测器小腔一一对应，准直管安装孔与其对应的探测器小腔连通，贯穿整个金属块，且准直管安装孔位于金属块的一面，探测器小腔贯穿到金属块的对面，本发明能够定量测量Si‑PIN探测器对硬X射线/伽玛射线响应的有效面积，从而使得Si‑PIN探测器在校准后能够用于硬X射线/伽玛射线定量测量。