机译:利用离子束技术研究低k介电薄膜中的氢稳定性
Pacific Northwest National Laboratory, P. O. Box 999, Richland, WA 99352, USA;
low-k dielectric films; rutherford backscattering spectroscopy; elastic recoil detection analysis;
机译:微型和纳米电子应用低k介电薄膜热稳定性的宽带介电光谱表征
机译:纳米多孔低k电介质薄膜的成像:超薄切片术和聚焦离子束制备物在透射电子显微镜下的比较
机译:热容量,熵和Gibbs在加工过程中形成低k非晶Si(O)CH介电膜的形成和稳定性的影响
机译:离子加速等离子体加氢和热处理对氢倍半硅氧烷(HSQ)低介电常数薄膜的影响
机译:用于高级互连的多孔低k电介质的机械可靠性:多孔低k电介质的不稳定性机理及其通过惰性等离子体引发的骨架结构再聚合的介导研究。
机译:用于微和纳米电子应用的低k介电薄膜的热稳定性的宽带介电光谱表征
机译:高强度慢阳梁梁的2D角相关实验研究了低k电介质膜的正极
机译:用高强度慢正电子束二维角相关实验研究低k介质薄膜中的正电子