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The positron distribution in a layered stack sample studied with the use of positron lifetime spectroscopy

机译:使用正电子寿命谱研究层状堆叠样品中的正电子分布

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摘要

Computer simulation using GEANT4 codes indicates an enhancement of the fraction of implanted positrons stopped in the denser regions of a layered sample. However, positron lifetime measurements performed for layers of pure aluminum, silver and gold foils do not reveal this effect, indicating instead that backscattering plays an important role in determining the positron implantation profile in layered and/or heterogeneous samples.
机译:使用GEANT4代码进行的计算机模拟表明,停止在分层样品的较稠密区域中的已植入正电子的比例有所提高。但是,对纯铝,银和金箔层进行的正电子寿命测量并没有显示出这种影响,这表明反散射在确定分层和/或异质样品中的正电子注入过程中起着重要作用。

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