一种用于测量薄膜样品的正电子湮没寿命谱仪

摘要

本发明提出一种用于测量薄膜样品的正电子湮没寿命谱仪，包括反符合模块、伽马探测器、采集模块和数据处理模块，所述反符合模块、伽马探测器分别与采集模块相连，所述采集模块连接到数据处理模块；所述的伽马探测器由闪烁体和光电倍增器件组成；所述的反符合模块包括两片薄塑料闪烁体、光电倍增器件、待测薄膜样品和放射源；其中，两片薄塑料闪烁体将待测薄膜样品和放射源夹在中间。