机译:硅酸ha薄膜的电学和结构性能
Department of Electrical Engineering and Electronics, University of Liverpool, Liverpool L69 3GJ, United Kingdom;
机译:反应磁控溅射参数对氧化ha薄膜结构和电性能的影响
机译:O_2环境对电子束蒸发制备氧化ha薄膜结构,光学和电学性质的影响
机译:射频功率对溅射二氧化Ha薄膜结构和电性能的影响
机译:沉积退火对RF溅射铪薄膜结构和电性能的影响
机译:掺钇的氧化oxide纳米晶体薄膜的结构,光学和电学性质。
机译:利用透射菊池衍射的Si和Zr掺杂氧化Ha薄膜和集成FeFET的结构和电学比较
机译:硅酸铬薄膜的结构,电学和热电性质