机译:烘烤时负偏压温度不稳定性(NBTI)恢复
机译:兼容SPICE的电路老化模拟器的负偏置温度不稳定性(NBTI)的恢复模型
机译:动态负偏压温度不稳定性(NBTI)应力下薄氧化膜的降解和恢复现象
机译:负偏置温度不稳定性(NBTI)对CMOS反相器电路的应力分析和温度影响
机译:解决有关p-MOSFET的负偏置温度不稳定性(NBTI)的物理机制和DC / AC应力/恢复模型的争议
机译:负偏置温度不稳定性(NBTI)容忍寄存器文件的设计。
机译:光激励对insnzno厚度变化薄膜晶体管漏电流和负偏置不稳定性的影响
机译:负偏压温度不稳定性(NBTI)实验