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机译:负偏置温度不稳定性(NBTI)对CMOS反相器电路的应力分析和温度影响
机译:负偏置温度不稳定性对CMOS逆变器影响的建模和实验验证
机译:动态负偏压温度不稳定性(NBTI)应力下薄氧化膜的降解和恢复现象
机译:低温多晶硅(LTPS)薄膜晶体管的动态负偏置温度不稳定性(NBTI)
机译:负偏置温度不稳定性(NBTI)的分析和影响
机译:负偏置温度不稳定性(NBTI)容忍寄存器文件的设计。
机译:高精度CMOS温度传感器在(−5°C120°C)温度范围内具有热敏电阻线性校准
机译:先进CMOS裸片亚亚MOS晶体管负偏压温度不稳定性(NBTI)的退化现象研究。