Utah State University.;
机译:寄存器文件设计为负偏置温度不稳定性
机译:负偏置温度不稳定性(NBTI)对CMOS反相器电路的应力分析和温度影响
机译:低温多晶硅(LTPS)薄膜晶体管的动态负偏置温度不稳定性(NBTI)
机译:MOSFET器件负偏压温度不稳定性(NBTI)的界面状态分量的高温退火
机译:具有氧氮化物栅极电介质的p + -poly PMOSFET中的热孔退化和负偏压温度不稳定性(NBTI)增强。
机译:通过合并隐藏阴性试验:在FDA注册的抗抑郁剂试验中合并试验的出版物偏倚的二次分析
机译:负偏压温度不稳定性(NBTI)实验