机译:基于再氧化一氧化二氮的新型电荷捕捉非易失性存储器
Department of Electronic Engineering, Jinju National University, 150 Chilamdong, Jinju 660-758, Republic of Korea;
Re-oxidized N_2O; nitrogen-rich layer; charge trap; nonvolatile memory; gate oxide reliability;
机译:再氧化氮氧化物(RONO)作为非易失性存储器的电荷捕获介质的可行性
机译:ZrO_2电荷陷阱层的氮氧化物-氮化物-氮化物-氧化物-硅非易失性存储器性能改进
机译:用于电荷俘获非易失性存储器的SiO_2 / Si或Si _xN_y / SiO_2 / Si上的高κ氧化物的热稳定性(会议论文)
机译:基于电荷捕捉非易失性存储结构的静电能量采集器
机译:SONOS非易失性存储设备中的均匀和局部电荷陷阱。
机译:非易失性存储应用中Al2O3-TiAlO-SiO2栅堆叠的电子结构和电荷俘获特性
机译:UV总剂量非挥发性传感器使用氧化硅 - 氮化物 - 氧化硅电容器,其具有氧 - 氮化物作为电荷捕获层
机译:基于聚类的反应概率硼与氧,氢,水,氮,一氧化二氮,二氧化碳,一氧化碳,甲烷,四氟甲烷和硅烷。