机译:超低能硼注入剂通过非氧化二次离子质谱分析和软X射线掠入射X射线荧光技术表征硅
Center for Materials and Microsystems-Irst, Fondazione Bruno Kessler, via Sommarive 18, 38050 Povo, Trento, Italy;
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Physikalisch-Technische Bundesanstalt, Abbestrasse 2-12, 10587 Berlin, Germany;
Physikalisch-Technische Bundesanstalt, Abbestrasse 2-12, 10587 Berlin, Germany;
Center for Materials and Microsystems-Irst, Fondazione Bruno Kessler, via Sommarive 18, 38050 Povo,Trento, Italy;
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Center for Materials and Microsystems-Irst, Fondazione Bruno Kessler, via Sommarive 18, 38050 Povo,Trento, Italy;
机译:掠入射X射线荧光和二次离子质谱联用表征硅中超浅砷的分布
机译:JGIXA-一个用于计算和拟合掠入射X射线荧光和X射线反射率数据的软件包,用于表征纳米层和超浅植入物
机译:通过掠入射和掠射X射线荧光光谱表征硅中的超浅铝植入物
机译:使用组合的放牧入射X射线荧光和X射线反射测量法的纳米级层系统的无参考深度表征
机译:通过飞行时间二次离子质谱,基质辅助激光解吸质谱和X射线光电子能谱表征新型聚合物。
机译:可定制的软件用于快速减少和分析大型X射线散射数据集:新的DPDAK软件包在小角度X射线散射和掠入射小角度X射线散射中的应用
机译:JGIXA —一个用于计算和拟合掠入射X射线荧光和X射线反射率数据的软件包,用于表征纳米层和超浅植入物
机译:使用X射线荧光光谱法和X射线粉末衍射的NIOsH / Epa煤/柴油研究中的结晶二氧化硅和硅分析