机译:空位缺陷对具有碳纳米管岛的单电子晶体管性能的影响
Univ Kashan Inst Nanosci & Nanotechnol Kashan Iran;
Univ Kashan Inst Nanosci & Nanotechnol Kashan Iran|Univ Kashan Dept Elect & Comp Engn Kashan Iran;
Urmia Univ Phys Dept Nanotechnol Res Ctr Orumiyeh Iran|Univ Teknol Malaysia Fac Elect Engn Johor Baharu Johor Malaysia;
Univ Teknol Malaysia Fac Elect Engn Johor Baharu Johor Malaysia;
Carbon nanotube; Quantum dot; Single-electron transistor; Vacancy defects;
机译:空位缺陷对具有碳纳米管岛的单电子晶体管性能的影响
机译:基于碳纳米管场效应晶体管和基于单电子隧穿晶体管的反相放大器的谐波和互调性能
机译:La(NO_3)_3工艺引入缺陷的室温碳纳米管单电子晶体管
机译:研究碳纳米管基驱动器晶体管对单壁碳纳米管互连性能的影响
机译:碳纳米管周围的理解和操纵电荷:碳通纳米管晶体管高性能计算的一步
机译:具有HfO2缺陷控制层的单壁碳纳米管为主的微米级条纹图案化铁电场效应晶体管
机译:单电子晶体管基于超小直径的单壁碳纳米管的AB Initio计算