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机译:双面表面光电压研究快速热退火过程中注入的铁在硅中的扩散
IR Process Solutions, Eugene, Oregon 97401, USA;
Wafer Reclaim Services, Vancouver, Washington 98682, USA;
NASA Headquarters, Washington, DC 20546, USA;
Department of Electrical Engineering, Arizona State University, Tempe, Arizona 85287, USA;
机译:LSA后快速热退火过程中氟共注入对锗预非晶硅中硼扩散的影响
机译:快速热退火中低能注入砷在硅中扩散的二维建模
机译:以电容-电压和表面光电压光谱为特征的快速热退火SiN_x:HlSi结构的电性能
机译:铁扩散轮廓研究通过表面光电压用于硅铁在快速热退火后的硅铁植入晶片
机译:在快速辅助快速热退火过程中,硼的活化和扩散会改变硅的初始工艺条件。
机译:碳化硅基体中硅纳米晶的快速热退火和结晶机理研究
机译:快速热退火的SINX的电性能:H / SI结构,其特征在于电容 - 电压和表面光电谱
机译:具有sIpOs(半绝缘多晶硅)异质结发射极和离子注入快速热退火基区的高频硅双极晶体管