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机译:扫描透射电子显微镜中通过电子能量损失光谱法测量的ZnO光学带隙的温度依赖性
Univ Oslo, Ctr Mat Sci & Nanotechnol, Dept Phys, POB 1048, N-0316 Oslo, Norway;
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机译:在扫描透射电子显微镜中使用电子能量损失谱直接对AgCuInGaSe_2中的深层进行纳米级表征
机译:电子能量损耗光谱(EELS)具有冷场发射扫描电子显微镜,在传输模式下的低加速电压
机译:扫描透射电子显微镜中的环形电子能量损失谱
机译:透射电子显微镜中的光谱研究CuPt有序GaInP的反相边界和弗伦克尔型缺陷的光学性质
机译:在扫描透射电子显微镜中用电子能量损失光谱法表征多相聚合物形态。
机译:单数字纳米电子束光刻和像差校正扫描透射电子显微镜
机译:ZnO光带隙的温度依赖性通过电子能损光谱测量扫描透射电子显微镜
机译:用透射电子显微镜中的电子能量损失谱研究半导体价等离子体线形状。