机译:在扫描透射电子显微镜中使用电子能量损失谱直接对AgCuInGaSe_2中的深层进行纳米级表征
Ohio State Univ Dept Mat Sci & Engn 116 W 19Th Ave Columbus OH 43210 USA;
Ohio State Univ Dept Elect & Comp Engn Columbus OH 43210 USA;
MiaSole Hitech Corp Santa Clara CA 95051 USA;
Ohio State Univ Dept Mat Sci & Engn 116 W 19Th Ave Columbus OH 43210 USA|Ohio State Univ Dept Elect & Comp Engn Columbus OH 43210 USA;
defect characterization; electron energy-loss spectroscopy; electron microscopy; photovoltaics; semiconductors;
机译:电子能量损耗光谱(EELS)具有冷场发射扫描电子显微镜,在传输模式下的低加速电压
机译:扫描透射电子显微镜中通过电子能量损失光谱法测量的ZnO光学带隙的温度依赖性
机译:扫描透射电子显微镜中的环形电子能量损失谱
机译:电子能量损失谱法在CIGS中进行纳米级电子结构表征
机译:在扫描透射电子显微镜中用电子能量损失光谱法表征多相聚合物形态。
机译:使用液体外壳和扫描透射电子显微镜对整个细胞进行纳米级成像
机译:在扫描透射电子显微镜中使用电子能损光谱直接纳米级表征Agcuingase 2中的深层水平
机译:用透射电子显微镜中的电子能量损失谱研究半导体价等离子体线形状。