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在电子显微镜中的电子能量损失光谱术：第3版

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电子能量损失光谱术（EELS）是研究表面科学的重要工具。在过去的30年中，EELS已成为透射电子显微镜（TEM）的一种标准的分析技术，用于测量材料表面原子级的化学性能、结构信息和物理性能。本书的前两版已成为EELS的标准参考书，讲述了EELS的各种仪器，以及相关的物理学内容和分析程序

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来源
《国外科技新书评介》 |2012年第6期|P.21-22|共2页
作者
刘克玲;
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作者单位

中国科学院过程工程研究所;

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原文格式 PDF
正文语种 CHI
中图分类特种结构材料;
关键词
透射电子显微镜; 电子能量损失; 光谱术; EELS; 表面科学; 化学性能; 材料表面; 物理性能;

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