机译:C-和Fe-掺杂GaN缓冲器对使用侧栅调制的GaN衬底上的AlGaN / GaN高电子迁移率晶体管性能的影响
Toyota Technol Inst Adv Electron Devices Lab Tempaku Ku 2-12-1 Hisakata Nagoya Aichi 4688511 Japan;
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Toyota Technol Inst Adv Electron Devices Lab Tempaku Ku 2-12-1 Hisakata Nagoya Aichi 4688511 Japan|Toyota Technol Inst Res Ctr Smart Energy Technol Tempaku Ku 2-12-1 Hisakata Nagoya Aichi 4688511 Japan;
GaN; HEMT; sidegate; buffer layer; GaN substrate; Fe-doped; C-doped;
机译:通过MOVPE在掺有Fe的GaN缓冲层的蓝宝石上的AlGaN / GaN高电子迁移率晶体管
机译:使用Algan / Aln / GaN应力缓解层对高电子迁移率晶体管应用的Si衬底上生长的GaN缓冲器结构特征的原位应力进化及其相关性
机译:4H-SiC衬底上生长的AlGaN / GaN高电子迁移率晶体管在GaN缓冲层中的Mg补偿效应
机译:GaN衬底与无C掺杂GaN缓冲层的GaN衬底侧栅调制响应的比较
机译:用于AlGaN / GaN和InAlN / GaN二极管以及在硅(111)衬底上生长的高迁移率晶体管的CMOS兼容氧化钌肖特基接触的研究。
机译:具有再生欧姆接触的半绝缘Ammono-GaN衬底上的AlGaN / GaN高电子迁移率晶体管
机译:AlGaN / GaN高电子迁移率晶体管,具有多Mgxny / GaN缓冲液
机译:si,GaN和alGaN / GaN高电子迁移率晶体管(HEmT)晶片的非接触迁移率,载流子密度和薄层电阻测量。