机译:氮氧化锗的电学性质及其与电子回旋共振等离子体氧化和氮化制备的锗的界面
Tokyo University of Science, Suwa, 5000-1 Toyohira, Chino, Nagano 391-0292, Japan;
Ge; GeO_2; GeON; ECR plasma oxidation; ECR plasma nitridation; GeO_2/Ge interface; GeON/Ge interface; interface trap; leakage current;
机译:电子回旋共振等离子体氧化法制备的氧化锗/锗界面的电学行为
机译:电子回旋共振等离子体辐射制备的氧化锗/锗界面的电学表征
机译:先进的高迁移率Ge通道金属氧化物半导体器件的栅堆叠技术-锗氧化物的基本方面以及等离子氮化技术在可扩展氮氧化物电介质制造中的应用
机译:以二氧化锗和氧氮化锗为界面层改善Al / ALD-HfO_2 / Ge MOS电容器的结构和电特性
机译:化合物的结构和磁热性质:硅锗,sa硅锗,一氧化euro和四氧化euro。
机译:常压等离子体氧化氮化制备的Si上SiOxNy层的界面特性
机译:Ge(100)上氧化铪/锗氧氮化物栅堆叠的化学键,界面和缺陷