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机译:一种简单的负偏置温度不稳定性表征方法,可将测量过程中的立即恢复效应降至最低
School of Electrical and Electronic Engineering, Nanyang Technological University, Singapore 639798;
NBTI; recovery effect; stress interruption; measurement method;
机译:具有最小辅助电路的65 nm互补金属氧化物半导体400 ns测量延迟负偏置温度不稳定性恢复传感器
机译:负动力学温度不稳定性的降解动力学,恢复和表征
机译:p沟道金属氧化物半导体场效应晶体管的正向偏置增强的负偏置温度不稳定性恢复
机译:空穴陷阱对PMOS晶体管中DC和AC负偏置温度不稳定性测量方法的影响
机译:SiGe PMOS器件上的总电离剂量辐射效应和负偏置温度不稳定性
机译:迈向统一的加速度计分析:一种标准化的方法可将由于系统加速度计的磨损时间变化而导致的测量偏差降至最低
机译:短期负偏置温度不稳定性测量的关键分析:解释零时延对动态测量的影响