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机译:围绕栅的能级依赖性的全栅金属氧化物-氮化物-氧化物半导体器件的保留特性
Department of Electronic Engineering, Hanyang University, Seoul 133-791, Korea;
Department of Electronic Engineering, Hanyang University, Seoul 133-791, Korea;
Department of Electronic Engineering, Hanyang University, Seoul 133-791, Korea;
机译:SiO_2隧穿和Si_3N_4 / HfO_2俘获层是通过低温工艺在全栅无结电荷俘获闪存器件上形成的
机译:基于Si₃n₄/ Zro的堆叠捕获层的门 - 全绕连接闪存装置的操作特性
机译:非晶态SiO2中自陷空穴的能级:虚构温度依赖性
机译:陷阱密度和氮化硅层的分布对电荷陷阱闪存器件的保持特性的影响
机译:评估和增强安装在太浩湖内华达州一侧的沉积物捕获和截留装置的有效性。
机译:采用无注入技术的全栅TiN / Al2O3堆叠结构的低温多晶硅纳米线无结器件
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机译:加速寿命测试和Gaas CHFET器件中器件特性的温度依赖性