机译:SiO_2隧穿和Si_3N_4 / HfO_2俘获层是通过低温工艺在全栅无结电荷俘获闪存器件上形成的
Department of Engineering and System Science, National Tsing Hua University;
Department of Engineering and System Science, National Tsing Hua University;
Department of Engineering and System Science, National Tsing Hua University;
Department of Engineering and System Science, National Tsing Hua University;
National Nano Device Laboratories;
National Nano Device Laboratories;
National Nano Device Laboratories;
Low temperature process; Gate-all-around (GAA); Charge-trapping; Junctionless; Flash device;
机译:具有由低温富氮SiN / SiO_2叠层形成的隧穿层的电荷俘获闪存器件的提高的编程/擦除速度
机译:基于Si₃n₄/ Zro的堆叠捕获层的门 - 全绕连接闪存装置的操作特性
机译:隧道氧化物工程,用于改善NATVOLATILE电荷捕获记忆中的氧化物工程,用TAN / AL_2O_3 / HFO_2 / SIO_2 / AL_2O_3 / SIO_2 / SI结构
机译:具有低温富氮SiN / SiO
机译:SONOS非易失性存储设备中的均匀和局部电荷陷阱。
机译:通过晶体ZrTiO4电荷陷阱层实现低压操作的闪存
机译:mo掺杂La2O3作为电荷俘获层,用于改善低压闪存性能
机译:实验性高密度光存储器。第二部分:KCl和KCl:NaCl中的电子自旋相关俘获和隧穿过程